选型区分重点
✅ NIR(850/940nm):普通硅相机通用,表面缺陷、普通透视; ✅ SWIR(1050nm 以上):硅片透视、水分检测、复合材料内部缺陷,必须搭配 InGaAs 相机; ✅ LLH-NIR:长条卷材线扫**;LSP7NIR:狭小空间定点短波红外检测; ✅ LLH-UV:紫外光源,用于荧光激发,与红外 IR 系列用途完全不同。
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