日本OTSUKA大塚分光辐射照度测量系统

一、产品概述

二、核心优势

1. 多波段模块化可选，全场景覆盖
   标准机型 230–835nm 可见光；可选 UV 深紫外款 220–850nm、近红外拓展 300–1600nm，适配 UVC **、UV 固化、常规照明、红外光源、显示屏背光各类检测需求。紫外机型搭载低杂散光光栅，短波测量无可见光干扰。
2. 多款余弦探头灵活选配
   标配标准余弦漫射探头；可选微型探头用于狭小缝隙、像素微区检测；斜入射补偿探头消除流水线大角度照射测量误差；大面积接收探头适配宽幅产线均匀性扫描。
3. 光谱 + 照度一体化同步测算
   单次采集完整光谱，同步输出光谱辐照度、总辐照度、照度、色坐标、色温、显色指数、峰值波长、光子通量密度 PFD 等全套参数，一台设备替代普通照度计、色差计、单通道光谱仪。
4. 超大动态范围，强弱光源通用
   高灵敏度制冷阵列探测器，无需频繁更换衰减片，微弱背光、微型 LED 与大功率 UV 固化灯、户外强光均可稳定测量，线性度优异，无饱和、低噪声。
5. 高速采集适配自动化量产
   单点光谱采集*快 16ms，搭配电动 XY 位移平台可完成工件全域辐照度 Mapping，生成二维分布云图，快速定位照射不均、边缘衰减、局部功率异常等工艺缺陷。
6. 智能软件联动，数字化闭环管控
   配套专业操作软件，支持 L-I-V 光电扫描、PWM 调光、长时间光衰监测；自动导出标准化检测报表，支持 USB、RS232、LAN 通讯对接上位机与 MES 系统，检测数据全程可追溯，支持年度校准计量。

三、核心技术规格