日本OTSUKA大塚 紫外分光配光测量系统

一、产品概述

二、机型区分与适配样品

三、核心产品优势

1. 深紫外低杂散光光学，短波测量精准稳定
   搭载紫外专用衍射光栅与杂散光抑制算法，220nm 短波杂散光大幅降低，不受可见光干扰，精准测量 222nm 准分子、254nm 汞灯、265nm UVC LED 微弱紫外信号，波长精度 ±0.5nm，可精准定位峰值波长与光谱半高宽。
2. 分光 + 配光一体化同步检测，一站式多维评价
   双轴测角仪自动全域扫描，每一个角度同步采集完整紫外光谱，单次测量同时输出紫外辐射配光曲线、*大辐射强度、光束角、光束辐射通量、空间辐照分布云图，同时兼容可见光色度、色温、显色指数检测，无需分光仪、照度计分机测试大塚電子。
3. 超宽动态探测器，强弱紫外无饱和失真
   高灵敏度制冷 PDA 探测器，无需更换衰减片，兼顾毫瓦级微型 UV 芯片与千瓦级大功率固化光源，线性测量区间覆盖 0.0001~400W 辐射通量，弱紫外无噪声漂移、强光无饱和溢出。
4. 全尺寸全覆盖，长条灯具专属适配
   GP-2000U 支持 2400mm 超长直管紫外灯，Type B/C 双光路自由切换；桌面小型机型适配芯片微小样品，样品装夹便捷，测量重复性高大塚电子(苏州)有限公司。
5. 软硬件一体化联动，自动化量产适配
   配套专业分析软件统一程控点灯电源、光谱采集，支持 L-I-V 光电扫描、PWM 脉冲调光、长时间紫外光衰自动测试；可批量存储测量程序，自动生成 3D 紫外辐射分布云图，直观识别照射不均、光斑偏移缺陷。
6. 计量可溯源，满足全球认证标准
   配套 JCSS 标准紫外校准光源，检测数据具备第三方计量效力；自动输出 IES/LDT 标准配光文件，适配国内外灯具认证、工艺研发数据归档，支持 USB/LAN 对接工厂 MES 系统。