日本OTSUKA大塚多通道光谱仪应用广泛

Name: 日本OTSUKA大塚多通道光谱仪 应用广泛
Brand: 日本OTSUKA大塚
SKU: MCPD-9800 / 6800

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产品名称: 日本OTSUKA大塚多通道光谱仪应用广泛

产品型号: MCPD-9800 / 6800

产品展商: 日本OTSUKA大塚

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简单介绍

MCPD 系列分旗舰 MCPD-9800 与标准 MCPD-6800 两款多通道分光主机，覆盖紫外至近红外多波段模块。9800 *快 5ms 高速采集、***宽动态范围，适配高速产线与高精度显微检测；6800 性价比突出，满足实验室常规透射、反射、膜厚检测。采用分体光纤柔性结构，可集成各类自动化设备实现在线监测，依托分光干涉算法可测 65nm~92μm 薄膜，*高解析 50 层复合膜，同步输出膜厚、光谱、色度、相位差参数。搭载 LAN/USB 工业通讯对接 PLC/MES，非接触无损测量，广泛用于半导体、显示光学膜、锂电光伏制程离线研发与在线品质监控

日本OTSUKA大塚多通道光谱仪应用广泛 的详细介绍

一、产品定位

MCPD 系列是大塚全系膜厚、相位差、色度检测设备的核心分光检测主机，分为旗舰款 MCPD-9800、标准通用款 MCPD-6800 两大机型，搭配多波段光学模块，依托分体光纤柔性光路，兼顾实验室离线检测与产线 Inline 嵌入式在线监测。可同步采集全波段光谱，一站式完成膜厚、反射 / 透射、色度、荧光、相位差多参数测量，广泛配套 OPTM、RETS、SF-3、线扫描膜厚仪等设备使用大塚科技股份有限公司。

二、检测原理

采用全息光栅分光 + 电子冷却阵列传感器，光纤采集样品反射、透射、干涉光谱，单次采集数百通道波长数据；搭载自研分光干涉拟合算法，自动解析单层 / 多层薄膜厚度、折射率 n、消光系数、色度、双折射相位差。电子制冷传感器抑制噪声，低杂散光光路消除测量干扰，毫秒级完成全光谱采集，适配高速产线动态监控与微弱信号高精度检测。

三、核心参数与机型差异

1. 基础通用配置

光纤：标准 2m 石英光纤，可定制加长、真空耐高压光纤
通讯：USB+LAN 双接口，支持 IO 触发、对接 PLC/MES 工业系统
波长模块：220~850nm 紫外、300~950nm 可见光、900~1600nm 近红外多波段可选
可测项目：膜厚、反射 / 透射 / 吸收光谱、色度、荧光、发光光谱、相位差 Re/Rth、光学常数 n/k大塚電子

2. MCPD-9800（旗舰高性能型）

传感器：电子冷却 CCD/InGaAs，512/1024 双通道可选，*高分辨率 0.5nm / 像素
采集速度：5ms~20s，毫秒级极速扫描
动态范围：100 万：1 HDR 宽动态，弱光、高反光样品测量稳定
杂散光抑制：远优于标准机型，紫外波段高精度定量检测
适配场景：显微分光、高速卷膜在线、多点阵列监测、微弱荧光、半导体精密制程
机身尺寸：105×230×280mm，轻量化竖置机身

3. MCPD-6800（标准经济型）

传感器：电子冷却 PDA 光电二极管阵列，统一 512 通道
采集速度：16ms~65s，满足常规检测节拍
动态范围：10 万：1，基础样品测量稳定
适配场景：实验室透射 / 反射、常规光学膜抽检、简易离线膜厚检测
机身尺寸：105×215×280mm，体积更小，成本更优

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